随着全球半导体市场的蓬勃发展，预计到2025年，晶圆代工行业的市场规模将突破1698亿美元大关，这一数据由IC Insights提供。然而，在这条通往增长的道路上，晶圆厂（Fab厂）面临着一个至关重要的挑战：良率管理。良率，这个直接影响盈利能力的关键因素，正成为晶圆厂扩张过程中不可忽视的生命线。
在半导体制造领域，良率的微小提升意味着巨大的经济收益。以存储芯片厂为例，良率每提高1%，年度净利润可增长约1.1亿美元；而对于尖端逻辑芯片制造厂，这一提升则能带来1.5亿美元的净利润增长。随着制程技术不断向3纳米等更先进节点推进，单个12英寸晶圆的价格已飙升至2万美元，相比5纳米工艺上涨了25%，良率的重要性愈发凸显。
传统上，晶圆厂依赖人工经验和基于规则的算法来管理良率。人工检测虽精确但耗时，且高度依赖检测人员的专业技能和主观判断。而规则算法在面对新型缺陷时往往力不从心，因为它们基于预设规则，难以灵活应对未知挑战。随着工艺复杂度的增加，这些传统方法的局限性愈发明显，行业急需一种更加智能、全面的解决方案。
芯片制造流程复杂，从硅片纯度到光刻机对准精度，再到蚀刻温度和薄膜沉积均匀性，每一个环节的微小偏差都可能对良率造成重大影响。更为复杂的是，这些变量之间往往相互关联，形成一个错综复杂的网络。因此，晶圆厂需要一种能够综合考虑所有变量，并快速定位问题根源的智能系统。
此时，电子设计自动化（EDA）工具携手人工智能技术，为晶圆厂带来了革命性的变革。通过整合设备、工艺和测试数据，构建多维度数据模型，AI能够精准识别工艺偏差，分析缺陷模式，甚至实现事前预测。这一转变不仅提高了良率管理的效率，还降低了对人工经验的依赖。
在国产EDA领域，AI技术的引入为国产工具提供了弯道超车的机会。华大九天的Vision平台就是其中的佼佼者。作为基于图形的工艺诊断分析平台，Vision通过分析半导体制造过程中图形的变化，结合量测数据和图像信息，有效改善了制造过程中的良率降低问题。
在工艺开发阶段，Vision平台的智能风险预测功能仅需分析芯片面积的一小部分关键区域，就能高效识别出大量独特风险点，缺陷捕获率大幅提升。同时，其生成式轮廓预测功能能够直接根据设计版图预测硅片实际轮廓，实现了“设计即预测”的愿景。
进入量产阶段，Vision平台的智能缺陷分析与采样功能融合了设计属性和缺陷特征，能够快速定位系统性缺陷的根源，避免了因主观判断导致的关键缺陷遗漏。离线智能量测功能打破了设备对量测效率的限制，支持多种主流设备图像的一站式处理，无需占用机台资源。
Vision平台无缝连接了从设计到产品的全链条数据，解决了传统工具数据割裂、分析片面的问题。通过EDA与AI的深度融合，晶圆厂得以清晰地看到良率提升的路径，为未来的市场竞争奠定了坚实的基础。
